ПРО ІНСТИТУТ
ПЕРІОДИЧНІ
ВИДАННЯ
ІНФОРМАЦІЙНІ
ПОВІДОМЛЕННЯ
В лабораторії є растровий електронний мікроскоп JSM-6700F з енерго-дисперсійною системою для мікроаналізу JED-2300.
Можливі дослідження: вивчення морфології і мікротопографії поверхні твердих об’єктів при збільшеннях від 25 до 650000 разів; напівкількісне локальне визначення хімічного складу твердих неорганічних об’єктів (в точці Ǿ 3-5 мкм). Аналізу підлягають хімічні елементи від Na до U.
Підготовка зразків: для растрової електронної мікроскопії та рентгено-спектрального мікроаналізу зразки потрібно очистити. Для огляду внутрішньої структури потрібно зробити полірування поверхні. Електропровідні зразки можна не напилювати. Непровідні зразки необхідно напилити тонким шаром вуглецю або платини. Важливо!! Розмір зразків не має перевищувати Ǿ 25 мм при висоті 10 мм та Ǿ 32 мм при висоті 20 мм.
Для мікроаналізу (визначення хімічного складу) масивні зразки повинні мати дві плоско паралельні площини, одна з яких має бути відполірована абразивом не крупніше 0,1 мкм. Мікрозразки (менше 1 мм) повинні бути вмонтовані в шашку з епоксидної смоли Ǿ 25 мм висотою 10 мм, або Ǿ 32 мм висотою 20 мм, виведені на поверхню та відполіровані абразивом крупністю не більше 0,1 мкм.
Відповідальний: Вишневський Олексій Анатолійович, тел. 424-20-43, vyshnevskyy@igmof.gov.ua
Електронний мікроскоп JSM-6700F з енерго-дисперсійною системою для мікроаналізу JED-2300
МОВИ
КЛЮЧОВІ СЛОВА